CINNO Research產(chǎn)業(yè)資訊，據(jù)報(bào)道，蘋果正在開發(fā)一種可以提高M(jìn)icro-LED顯示器轉(zhuǎn)移效率的芯片質(zhì)量管控方法。與目前廣泛應(yīng)用的OLED顯示器相比，Micro-LED顯示器具有許多優(yōu)勢，可能會在Apple Watch或iPhone等未來設(shè)備中使用。
與LCD或OLED顯示器相比，Micro-LED顯示面板可以提供更好的對比度，更快的響應(yīng)時(shí)間和更低的能耗。據(jù)相關(guān)報(bào)道，蘋果正在考慮將這種顯示面板用于其未來版Apple Watch或iPhone等產(chǎn)品上。
不過，就目前來看，Micro-LED技術(shù)還面臨著很多瓶頸性問題。正如蘋果公司在周二授予的專利中指出的那樣，Micro-LED顯示面板商業(yè)化的瓶頸之一就是“拾取和放置Pick-and-Place（拾取和放置）”問題，即巨量轉(zhuǎn)移問題。為了完成顯示面板的制造，制造商必須使用特定的“Pick-and-Place”技術(shù)完成芯片的巨量轉(zhuǎn)移。一般來說，巨量轉(zhuǎn)移過程不可避免會因?yàn)椴糠中酒陨韱栴}而導(dǎo)致轉(zhuǎn)移完成后的重工，此時(shí)精確測定Micro-LED芯片的質(zhì)量情況至關(guān)重要。
這就是蘋果公司在其名為“Micro-LED芯片的測試”的專利中要解決的問題。蘋果公司針對Micro-LED顯示面板制作之前芯片的質(zhì)量設(shè)計(jì)了一種非常好的監(jiān)測系統(tǒng)。
在該專利的內(nèi)容中，蘋果公司設(shè)計(jì)了一種特定的測試設(shè)備和體系結(jié)構(gòu)，相應(yīng)還提供了一種方法。通過設(shè)備和方法的使用，制造商可以在將Micro-LED芯片或行/列驅(qū)動器轉(zhuǎn)移到顯示驅(qū)動面板上之前對其進(jìn)行精確定位和監(jiān)測識別。
該設(shè)計(jì)系統(tǒng)的目標(biāo)是在將芯片綁定到基板上之前，檢測出質(zhì)量不合格的Micro-LED芯片。當(dāng)問題芯片被發(fā)現(xiàn)后，制造商便可以對此做出輕松處理，這樣就非常有助于后段的巨量轉(zhuǎn)移良率和相應(yīng)的成本問題。
“在檢測出微型驅(qū)動器或者M(jìn)icro-LED芯片是否正常工作后，系統(tǒng)會相應(yīng)做出決定處理，” 蘋果公司在專利中寫道：“在一些實(shí)施例中，該決定還可以在對顯示器進(jìn)行過光學(xué)掃描之后做出。另外一種替代方案是，在正常工作時(shí)測量驅(qū)動電路上的電流和/或電壓以確定芯片之間的數(shù)值水平是否符合預(yù)期（比如電壓出現(xiàn)特定大小的壓降）。”
在處理方案中，任何特定的微型驅(qū)動器或Micro-LED芯片在被檢測出問題后都會被丟棄，并用一顆無缺陷的驅(qū)動器或Micro-LED芯片代替。蘋果公司還指出，無論何時(shí)進(jìn)行測試，系統(tǒng)都會使用一種映射方案，來用一些備用的微型驅(qū)動器或Micro-LED芯片代替有缺陷的微型驅(qū)動器或Micro-LED芯片。
再具體一點(diǎn)，該系統(tǒng)的測試還可以細(xì)分成不同的類別。舉個(gè)例子，如果Micro-LED顯示器的亮度低于預(yù)期，該系統(tǒng)可以繼續(xù)進(jìn)行一次更嚴(yán)格的測試，以確認(rèn)特定Micro-LED芯片是否出現(xiàn)問題，或者微型驅(qū)動器是否導(dǎo)致一定數(shù)量Micro-LED芯片性能的下降。
蘋果公司于2018年3月首次申請?jiān)搶＠�，其發(fā)明人包括Mahdi Farrokh Baroughi，Bo Yang，Xian Lu和Hopil Bae。在其中，Bae先前已獲得與自適應(yīng)亮度控制相關(guān)的其他專利。
這里，上述專利所描述的技術(shù)何時(shí)會應(yīng)用還不能確定。實(shí)際上，蘋果每周都會申請并獲得許多專利，不過這些專利本身并不能保證一定會在將來有實(shí)際應(yīng)用。
據(jù)之前的報(bào)道來看，蘋果公司正在考慮于2023或2024年，在Apple Watch中使用Micro-LED顯示屏。另外還有報(bào)道說，富士康正在爭取蘋果Micro-LED版 iPhone顯示屏的生產(chǎn)訂單。
